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瞬态平面热源法 |
激光法 |
热线法 |
保护平板法 |
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测量方法 |
非稳态法 |
非稳态法 |
非稳态法 |
稳态法 |
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测量物性 |
直接获得导热系数和热扩散率 |
直接获得热扩散率和比热，通过输入的样品密度值计算得到导热系数 |
直接获得导热系数 |
直接获得导热系数 |
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适用范围 |
固体、液体、粉末、膏体、胶体、颗粒 |
固体 |
固体、液体 |
固体 |
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样品制备 |
无特殊要求，制样简单 |
制样繁杂 |
制样简单，有特定要求 |
样品尺寸较大 |
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测量准确度 |
±3%,最好可达到±0.5% |
最好可达到±10% |
最好可达到±5% |
最好可达到±3% |
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物理模型 |
平面热源接触式测量，只要有限面接触良好 |
热源非接触式 |
线热源，必须线模型接触良好 |
热源接触式，需面接触良好 |
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热导范围[w/(m*k)] |
0.005-300 |
10-500 |
0.005-10 |
0.005-5 |
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测量时间 |
5-160S |
几分钟 |
几十分钟 |
数小时 |
三、产品优势
1.仪器参考标准：ISO 22007-2 2008。
2.测试范围广泛，测试性能稳定，在国内同类仪器中，处于领先水平。
3.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间。
4.不会和静态法一样受到接触热阻的影响。
5.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可。
6.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用。
7.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算。
8.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观。
9.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠。
10.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加精确。
11.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。
12.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁。
13.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。