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广东壹本源——老化测试电源
在控制模块电源在出厂前，都是有通过严谨的检测，老化测试是在其中一项。通过老化测试的控制模块电源，可以提高设备的品质，让使用者在应用全过程中降低发生常见故障概率，增加使用期限。老化测试电源
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在生产制造控制模块电源全过程中，有一些难题是大家人眼没法看到的，如来佛祖料的电子器件优劣，空焊等难题。尽管在生产流水线刚完成的控制模块电源可以立即应用，可是许多情况下商品到顾客手里才发觉用不上。这主要是因为在生产过程中只有简易的插电检测，并没做长期不一样自然环境的插电检测。老化测试电源
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模块电源的高溫老化就是拟产品的高溫应用自然环境，电阻老化测试电源，老化测试時间一般规定为12-48钟头。高溫老化步骤有两种，一种是设定在高溫自然环境中，插电老化。一种是在高溫条件下，用更恶劣的环境标准冲击性模块电源。老化测试电源
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老化和各种其他形式的寿命和压力测试有助于提供数据，使电源制造商能够不断提高其产品的可靠性。经过正确分析并反馈到设计和组装过程中，累积的数据可用于优化测试和老化过程。多年来，传统的电源老化方法涉及在较高的温度（通常是额定工作温度）下运行产品，其中潜在缺陷的出现速度被认为会加快。老化测试电源
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电源在满载条件下进行电源循环，LED家庭照明灯老化测试电源，输入电压以或电压运行，以提供电压应力或电流应力，具体取决于设计拓扑。必须谨慎选择条件，因为某些拓扑中的某些组件在轻负载下会承受更大的压力，例如变频转换器中的缓冲网络。也可以应用一些技巧。例如，如果要使产品在强制通风下正常运行，则可以在静止空气中以轻载运行，并且仍可以达到热组件的可比较温度应力水平。老化测试电源
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这可以施加适当的电流应力水平，同时在短路时使用内置的保护电路，并在断路时对许多组件施加高压应力水平。尽管短路或开路负载中的功率理论上为零，但实际上可以通过耗散几瓦的MOSFET来施加短路，这是一个很大的好处。这种方法减轻了老化负载中浪费能源的实际问题。但是，由于该设备提供的总功率可能很低，因此自发热可能很低，因此某些类型的组件应力未应用此方法。老化测试电源
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CPU老化是不会出现性能下降情况的，但是老化后CPU内部的一些电子会发生变化，从而导致功耗增加。CPU在出厂时都是会严格检测老化工艺的，而老化工艺的目的就是为了降低CPU的失效率。
CPU老化到一定程度，虽然厂商预设计频率不会下降但随之而来的则是各种CPU故障，这个表现在出错率提升上面，虽然CPU自身也有纠错技术，但有一些却是纠错技术也无能为力的问题。老化测试电源
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任何电子元器件包括电路板都会老化的，保险丝老化测试电源，硬盘由于持续高速旋转和频繁的通断电更易老化，硬盘老化会明显影响速度；CPU老化不是很明显，不影响速度，表现为系统稳定性、兼容性变差、时常死机或频繁重启等等，主板与显卡CPU类似，一般3年左右会表现较明显，具体情况要看你机器的使用频度、环境、电源稳定性等等，没确定的说法一般注意保养就好了。老化测试电源
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老化箱使用方法:
1、将被干燥的物品放入老化试验箱内，关好箱门后接通电源。
2、把电源开关拔至“开”处，此时电源指示灯亮，数显控温仪有数字显示。
3、控温仪设定见附1。控温仪显示箱内有温度，一般情况下，加热90min后温度控制进入恒温状态。（注意：智能型控温仪参照下面“操作方法”）
4、当所需工作温度较低时，可采用二次设定方法，如需工作温度80℃时，次可设定70℃，等温度过冲回落时，上海老化测试电源，再第二次设定80℃，这样可降低甚至温度过冲现象，使箱内温度尽快进入恒温状态。
5、根据不同的物品，不同的潮湿程度，选择不同的干燥温度和时间。
6、干燥结束后，把电源开关拔至“关”处，但不能马上打开箱门取出物品，小心，可先打开箱门降低箱内温度再取出物品。老化测试电源
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